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超滤膜孔径如何测定
超滤膜孔径的测定方法。常用超滤膜孔径的测定是通过检测与孔存在相关的物理效应来实现的,可分为几何孔径测定和物理孔径测定两种方法。具体的有效测定方法尚在探讨之中。
泡点测试是表征膜最大孔径的一种简单方法和常用方法,这种方法主要是将空气吹过充满液体的膜所需要的压力。假设膜对液体介质是完全浸润的(即全部气孔均充满液体介质),液体使膜润湿,此时膜所有的孔都充满了液体。
确认有多少液体要超滤、需要在多久的时间里完成。根据料液特性,选择超滤组件型式、截留分子量等级,再结合起来估超滤的单位面积速度。量÷时间÷速度=过滤面积。根据过滤面积选择合适的组件大小。
超滤(UF)是介于微滤和纳滤之间的一种膜过程,膜孔径在0.05um至1nm之间。超滤是一种能够将溶液进行净化、分离、浓缩的膜分离技术,超滤过程通常可以理解成与膜孔径大小相关的筛分过程。
恒速压汞实验测试
恒速压汞实验所用的最高进汞压力通常为900psi,与之对应的喉道半径大小约为0.12μm。
恒速压汞实验的最高进汞压力为900psi(lpsi=0.006895MPa),与之对应的喉道半径约为0.12μm。通常将半径小于0.12μm的喉道及其所控制的孔隙称为渗流过程中的无效喉道或无效孔隙。
恒速压汞的实验原理简述如下:恒速压汞以非常低的速度进汞,其进汞速度为0.000001mL/s,如此低的进汞速度保证了准静态进汞过程的发生。
该样由于孔隙和喉道较小,因此采用恒速压汞测试的结果较差,仅能测试到非常有效的孔隙范围,本实验中仅为0.1~4μm,因此恒速压汞结果无法跟核磁共振结果对比分析。
锂电池薄膜厚度测量的方法和技术是什么?
1、现在,人们亟需锂电池薄膜厚度测量技术,都想得知其中方法。在铜箔电镀工序和铝箔轧制工序中,使用X射线面密度仪的话,可以测出金属薄膜的面密度、厚度一致性。
2、深圳大成精密生产、销售各种类型的面密度仪、测厚仪,包括X/β射线面密度仪、锂电激光测厚仪等。可以测出金属薄膜的面密度、厚度一致性。
3、利用X射线穿透物质的吸收、反散射效应实现非接触式测量材料的厚度、面密度。可以与薄膜生产设备形成闭环控制,提高产品厚度、面密度一致性, 减轻操作员的劳动强度,减少品质对操作员的能力依赖。
4、锂电池薄膜厚度的测量方法有很多种,可以根据需要,选择对应的仪器设备就好。
5、使用锂电池涂层厚度测量仪,可以无损检测得出磁性金属基体上非磁性覆层的厚度、非磁性金属基体上非导电覆层的厚度,大家要注意品牌选择。
6、一种常见的测量薄膜厚度的方法是使用激光白光干涉仪。该仪器采用干涉的原理,通过分析激光在薄膜表面反射和穿透的光线,在纳米级精度下测定薄膜厚度。该方法无需接触样品,测量速度快,且对不同类型的薄膜都适用。
梯度结构膜怎么测孔径
膜的孔径测量一般用汞压法可以测量。首先要说明白,膜的表面孔径是一个平均孔径,它和膜的孔隙率都是表征膜的重要数据。但是一般要说膜的截留性能,尤其是超滤或纳滤膜,一般使用截留分子量来表示。
测量孔径要看孔径公称尺寸及精度(偏差及圆度)及孔深确定适宜的量具。一般采用适宜的内径百分表测量90°直径方向两个数值,如果孔的轴向长度较大,还需轴向大致分2-3段测量内径。
目前大致采用以下方法:直接测量法 直接法测膜孔径 (1)电子显微镜 扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)电子显微镜表征膜的孔径、孔径分布及膜的形态结构。制样至关重要。湿膜样品要经过脱水、蒸镀、复型等处理。
泡点测试是表征膜最大孔径的一种简单方法和常用方法,这种方法主要是将空气吹过充满液体的膜所需要的压力。假设膜对液体介质是完全浸润的(即全部气孔均充满液体介质),液体使膜润湿,此时膜所有的孔都充满了液体。
对超滤膜而言,孔径是指在贯通于膜两表面的孔道中最窄细处的通道半径,即贯通孔的孔径半径。由于无效孔的存在,同时由于所需测试压力大(如当所测孔半径低至3nm时,所需压力高达7GPa),将部分改变膜孔结构。
由两瓣体配合测针可以将测力一比一的传递到显示表上,重复精度可以保证≤1μm(1μm=0.001mm)。如果有需求还可以配合台架来测量,配合台架重复精度可以打到0.5μm。
盖层全孔隙结构测定方法
压汞法(MIP)用来测定部分中孔和大孔孔径分布,主要依靠外加压力使汞克服表面张力进入焦炭气孔来测定。外加压力增大,可使汞进入更小的气孔,进入焦炭气孔的汞量也就愈多。
将选定试验坑位置处的地面铲平,其面积略大于试验坑直径150mm,按试坑直径划出坑口轮廓线,在轮廓线内下挖至要求深度200mm处,边挖边将挖出的土放入盛土容器内,称土的质量,然后取代表性土样测定含水率。
因此,对于川东南地区低孔低渗储层,矩法应是确定其孔隙结构特征参数的合理方法。
然而用常规方法难以测定如此微小的孔隙含量,采用液氮吸附法则可很好地描述微细孔隙分布规律,评价盖层的封盖能力。
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